基于反射测量流体的浊度。在没有反射损耗的情况下，当弱光束通过电介质样品时，最负责降低传输光束强度最负责的两个过程是吸收和散射。
由于散射引起的透射光强度的降低称为样品的浊度。灭绝包括
吸收和散射的影响。Beer-Lambert或Lambert法律描述了吸收和浊度对透射强度的影响。本法是：
其中它=透过样品透射的光的强度，I 0 =入射在样品上的光的强度，
A =每单位长度的吸收系数，每单位长度T =浊度，并且L =样品中的光路的长度。
浊度：非混合介质中的颗粒
假设电磁辐射入射在由随机定位的颗粒组成的介质的板上并且如图所示检测到的透射辐射：
假设源和检测器处于介质中。由于介质中的颗粒存在颗粒在梁的灭绝（或衰减）中，检测器接收的辐射将小于在板上入射的辐射。辐射的灭绝取决于两个物理过程，散射和吸收，而浊度仅取决于散射。
在散射中，辐射的总能量没有变化;相反，一些入射辐射被重新分配远离入射方向。在吸收中，入射光束的一些能量被转化为其他能量形式。这种光束的灭绝是相当复杂的;通常，它依赖于颗粒的化学成分，尺寸，形状，数量和方向;培养基的化学成分;以及入射辐射的频率和极化。
用于浊度测量的单光束仪器：光学
显示单梁仪器的基本光学设计：
光源是低功率（1至5mW）垂直偏振的HE-NE激光。使用偏振光激光非常重要。非偏振激光伴侣的偏振方向，这可以导致来自该仪器中的各种表面的时间依赖的反射系数，因此降低了性能。光束通过激光强度稳定剂。该器件将激光功率的长期漂移减少到<= 0.1％，从而允许单梁操作。
为了减少由于吸收的任何可能的样品加热，然后通过中性密度过滤器通过中性密度过滤器，其将光束进一步衰减至50至100μW的水平。光束线中的下一个项目取决于检测方案。对于AC操作，将光斩波器插入梁线中，同时对于DC检测，在样品之前需要否则否则。
然后跟随样品室。该腔室需要输入和输出端口和输出端口和设计，该设计排除了与其他反射光束的任何光束的干扰。其他设计细节由要研究的材料和所需的外部因素决定。在通过样品透过梁之后，它通过针孔或透镜针孔组合。
这导致对检测器的小角度，该检测器又会从到达检测器的透射光束以小角度降低散射光。然后检测器完成光学系。对于大多数应用，PIN光电二极管是一种优异的廉价探测器;然而，在一些应用中，其他类型的探测器可能是优越的。
