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低电阻测量技术

用于测量中间电阻的方法不适用于测量低电阻。这是由于与测量下的低电阻相比,铅和触点的电阻是可观的。

电压表仪测量低电阻的方法

由于其简单性,这种方法非常常用于当1%的准确度足够时测量低电阻。然而,用于这种测量的电阻元件需要特殊结构。低电阻由四个端子构造,如下所示:

一对称为当前端子的终端CC'用于引导电流和电阻器。在另一对端子PP'之间测量电阻的电压降,称为潜在终端。因此,电压表指示的电压仅仅是电阻终端PP的电阻的电压降
并且不包括可能存在于当前端子CC的任何接触电阻下降。

然而,由于在电位电路中涉及的高电阻,因此潜在终端PP的接触率较少,因为通过这些触点的电流非常小(在“零”平衡条件下均匀零)。

在这种情况下,未知电阻Rx的值由:电压表读取/电动表读取给出

Kelvin的测量低电阻的双桥方法

Kelvin的双桥方法是测量低电阻的最佳可用方法之一。实际上是惠斯通桥的修改,其中可以消除由于触点和铅电阻引起的误差。

Kelvin的双桥包括第二组比率臂,即P和Q组的想法,因此名称'双桥。节点A和B处的潜在的不平衡条件必须是相等的,以便电流计G给出“空”偏转。由于在平衡,没有电流流过电流计,可以被认为是开放的。

低电阻测量电位计方法

未知电阻X串联与标准已知电阻S串联连接。通过电路中的电压器电流的电流由变阻器控制。使用双极双掷开关。当开关处于位置1-1'时,未知电阻X连接到电位器,而当开关处于2-2'的位置时,则
标准电阻S连接到电位器。

因此,通过开关位1-1',电位计读数是横跨未知电阻的电压降vx = i * x

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